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一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超声衰减评价方法.pdf

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一种 剔除 曲面 扩散 影响 金属 晶粒 尺寸 超声 衰减 评价 方法
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摘要
申请专利号:

CN201510680907.1

申请日:

2015.10.21

公开号:

CN106483198A

公开日:

2017.03.08

当前法律状态:

授权

?#34892;?#24615;:

有权

法?#19978;?#24773;: 授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G01N 29/11申请日:20151021|||公开
IPC分类号: G01N29/11 主分类号: G01N29/11
申请人: 中南大学
发明人: 李雄兵; 张晨昕; 高广军; 戴万林; 宋永锋
地址: 410083 湖南省长沙?#24615;?#40595;区麓山?#19979;?32号
优先权:
专利代理机构: 代理人:
PDF完整版下载: PDF下载
法律状态
申请(专利)号:

CN201510680907.1

授权公告号:

||||||

法律状态公告日:

2019.03.19|||2017.04.05|||2017.03.08

法律状态类型:

授权|||实质审查的生效|||公开

摘要

本发明公开了一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超声衰减评价方法,所述方法通过对平面标定金属试块进行数据采集,利用所采集的一次及二次底波信号提取试验总衰减谱,运用多元高斯声束理论建立曲面试块扩散衰减模型,进而得到剔除扩散衰减分量的散射衰减谱,运用散射衰减谱计算晶粒尺寸评价函数,建立晶粒尺寸多频加权评价模型,最后运用所建立的晶粒尺寸多频加权评价模型对晶粒尺寸未知的曲面测试试块进行晶粒尺寸评价。该方法能减小系统误差和随机误差,针对金相法测定晶粒尺寸为124.43?μm的6种不同曲率试块,该方法评价相对误差均值为4.28%。可见,本发明提供的方法?#34892;б种?#20102;曲面扩散对晶粒尺寸评价的影响,提高了曲面金属晶粒尺寸无损评价的精?#21462;?/p>

权利要求书

1.一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超声衰减评价方法,其特征在于,所述方法
包括以下步骤:
S11、通过不同热处理制备形状相同但具有不同平均晶粒尺寸的平面标定试块,通过相
同条件热处理制备形状不同但具有相同平均晶粒尺寸的曲面测试试块,采集标定及曲面试
块的超声回波信号,利用一次及二次底波信号提取各个试块的超声总衰减谱,使用金相法
测定并记录各标定试块及测试试块的晶粒尺寸;
S12、运用多元高斯声束理论建立不考虑散射衰减的扩散衰减计算模型,利用所建立扩
散衰减计算模型计算所述步骤S11得到的各标定试块及测试试块的扩散衰减谱;
S13、在所述步骤S11得到的超声总衰减谱中剔除所述步骤S12得到的扩散衰减谱分量,
得到所述步骤S11得到的各标定试块及测试试块的真实散射衰减谱,结合所述步骤S11得到
的标定试块的金相法晶粒尺寸,计算各个频率的晶粒尺寸评价函数;
S14、利用所述步骤S13得到的各个频率的晶粒尺寸评价函数,建立晶粒尺寸多频加权
评价模型;
S15、利用所述步骤S14得到的晶粒尺寸多频加权评价模型,对各个曲面测试试块进行
晶粒尺寸评价。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S12具体为:
S21、如图2所示,运用高斯声束模型求解探?#26041;?#25910;到的一次底波BW1及二次底波BW2的
质点振动速度和,求解过程?#34892;?#35201;考虑以下影响因素:声束在水-被测试块
界面、试块-水界面的透射系数T12和T21,在工件-水界面的反射系数R21,探头到被测试块表
面的距离W,被测试块厚度h和被测试块上下曲面曲率半径的r1、r2;
S22、利用所述步骤S21得到的一次底波BW1及二次底波BW2的质点振动速度和
,对探头晶片各点处的声压进行面积分,则探?#26041;?#25910;的一次底波BW1和二次底波BW2
声束平均声压分别为
(1)
(2)
式中,ρ为水的密度,为超声波在水中传播速度,S为接收探头的晶片?#34892;?#38754;积,
为探?#26041;?#25910;的一次底波BW1声束平均声压,探?#26041;?#25910;的二次底波BW2声
束平均声压;
S23、运用所述步骤S22得到的探?#26041;?#25910;的一次底波BW1和二次底波BW2声束平均声压
和,求出被测试块一次底波BW1对二次底波BW2的扩散衰减谱为
(3)
式中,s(f)为检测系统的系统函数,为一次底波BW1的声弹?#28304;?#36882;函数,
为二次底波BW2的声弹?#28304;?#36882;函数,为试块一次底波BW1对二次底波BW2的
扩散衰减谱。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S3具体为:
S31、利用所述步骤S23得到的一次底波BW1对二次底波BW2的扩散衰减谱,计算
被测试块的真实散射衰减谱为
(4)
式中,α(f)为被测试块的真实衰减谱,αtotal(f) 为被测试块的超声总衰减谱;
S32、根据步骤S11所选取探头的?#34892;?#39057;?#26159;?#38388;,选取频率fi,计算频率fi下的晶粒尺寸
衰减评价函数为
(5)
式中,Di为被测试块的晶粒尺寸,α(fi)为被测试块在频率fi的真实衰减值,
为频率fi下的晶粒尺寸衰减评价函数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S14具体方法为:选取的fi等距分
布在区间[f1, fn],对应修正后的衰减系数为[α(f1),α(fn)],利用所述步骤S32得到的频率
fi下的晶粒尺寸衰减评价函数,测试试块晶粒尺寸的评价模型为
(6)
式中,wi为各频率下的晶粒尺寸评价函数的归一化权值,且满足。

说明书

一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超声衰减评价方法

技术领域

本发明涉及金属平均晶粒尺寸测量技术领域,尤其涉及一种剔除曲面扩散影响的
金属晶粒尺寸超声衰减评价方法。

背景技术

晶粒尺寸是表征金属材料微观特性的一个重要参数,如细晶强化是提高多晶铸件
强?#21462;?#22609;性及韧性的?#34892;?#25163;段,而增大晶粒尺寸则可使晶界能?#26723;停?#25552;高金属的?#36879;?#34432;性
能。因此,在金属构件的生产和服役过程中,严格控制晶粒尺寸是保障金属材料强?#21462;?#38887;性、
耐候性等机械性能的关键之一,而?#34892;?#26816;测晶粒尺寸又是其的前提和基础。获取金属材料
晶粒尺寸的方法可分为有损和无损两种,有损法如金相法具有结果直观和检测精度高等优
点,但需对材料进行破坏,且分析程序繁琐、检测效?#23454;停?#22240;?#25628;?#31350;出一种能准确检测材料
晶粒尺寸的无损方法具有十?#31181;?#35201;的意义。超声无损评价方法具有穿透能力强、灵敏度高、
对人体无害等优点,是目前国内外对材料进行微观结构检测所普遍采用的无损方法。

由于多晶金属材料的?#25345;汀?#38459;尼及晶界散射效应等的作用,超声波强度及波谱成
分都会发生改变,其中晶粒尺寸很大程度上决定了声能的散射衰减,因此可通过测定超声
散射衰减系数间接评价材料的晶粒尺寸。然而在对曲面工件的实际测量中,声能的衰减与
波谱成分的变化还包含了较大程度的扩散损失,即超声传播过程中因声束发散、曲面界面
反射与折射,导致有限孔径的探?#26041;?#33021;接收到部分回波信号,因此有必要进行声能的扩散
补偿以减少因衍射带来的声能衰减。基于以上研究现状,本发明结合高斯声束理论,建立了
一种可剔除工件曲面曲率及水声距设置对超声衰减总量的影响,减小系统误差,提高衰减
法评价曲面工件晶粒尺寸的精度的方法。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是在检测曲面工件时,如何精确、可靠、无损测量其晶粒
尺寸。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超
声衰减评价方法,所述方法包括以下步骤:

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超
声衰减评价方法,所述方法包括以下步骤:

S1、通过不同热处理制备形状相同但具有不同平均晶粒尺寸的平面标定试块,通
过相同条件热处理制备形状不同但具有相同平均晶粒尺寸的曲面测试试块,采集标定及曲
面试块的超声回波信号,利用一次及二次底波信号提取各个试块的超声总衰减谱,使用金
相法测定并记录各标定试块及测试试块的晶粒尺寸。

S2、运用多元高斯声束理论建立不考虑散射衰减的扩散衰减计算模型,利用所建
立扩散衰减计算模型计算所述步骤S1得到的各标定试块及测试试块的扩散衰减谱。

S3、在所述步骤S1得到的超声总衰减谱中剔除所述步骤S2得到的扩散衰减谱分
量,得到所述步骤S1得到的各标定试块及测试试块的真实散射衰减谱,结合所述步骤S1得
到的标定试块的金相法晶粒尺寸,计算各个频率的晶粒尺寸评价函数。

S4、利用所述步骤S3得到的各个频率的晶粒尺寸评价函数,建立晶粒尺寸多频加
权评价模型。

S5、利用所述步骤S4得到的晶粒尺寸多频加权评价模型,对各个曲面测试试块进
行晶粒尺寸评价。

2、优选地,所述步骤S2具体为:

S21、运用高斯声束模型求解探?#26041;?#25910;到的一次底波BW1及二次底波BW2的质点振
动速度vBW1(f)和vBW2(f),求解过程?#34892;?#35201;考虑以下影响因素:声束在水-被测试块界面、试
块-水界面的透射系数T12和T21,在工件-水界面的反射系数R21,探头到被测试块表面的距离
W,被测试块厚度h和被测试块上下曲面曲率半径的r1、r2。

S22、利用所述步骤S21得到的一次底波BW1及二次底波BW2的质点振动速度vBW1(f)
和vBW2(f),对探头晶片各点处的声压进行面积分,则探?#26041;?#25910;的一次底波BW1和二次底波
BW2声束平均声压分别为



式中,ρ为水的密度,为超声波在水中传播速度,S为接收探头的晶片?#34892;?#38754;积,
为探?#26041;?#25910;的一次底波BW1声束平均声压,探?#26041;?#25910;的二次底波BW2声
束平均声压。

S23、运用所述步骤S22得到的探?#26041;?#25910;的一次底波BW1和二次底波BW2声束平均声
压和求出被测试块一次底波BW1对二次底波BW2的扩散衰减谱为


式中,s(f)为检测系统的系统函数,tBW1(f)为一次底波BW1的声弹?#28304;?#36882;函数,tBW2
(f)为二次底波BW2的声弹?#28304;?#36882;函数,αdiff(f)为试块一次底波BW1对二次底波BW2的扩散
衰减谱。

3、优选地,所述步骤S3具体为:

S31、利用所述步骤S23得到的一次底波BW1对二次底波BW2的扩散衰减谱αdiff(f),
计算被测试块的真实散射衰减谱为

α(f)=αtotal(f)-αdiff(f) (4) 式中,α(f)为被测试块的真实衰减谱,αtotal(f)为
被测试块的超声总衰减谱。

S32、根据步骤S1所选取探头的?#34892;?#39057;?#26159;?#38388;,选取频率fi,计算频率fi下的晶粒尺
寸衰减评价函数为


式中,Di为被测试块的晶粒尺寸,α(fi)为被测试块在频率fi的真实衰减值,
为频率fi下的晶粒尺寸衰减评价函数。

4、优选地,所述步骤S3具体方法为:

选取的fi等距分布在区间[f1,fn],对应修正后的衰减系数为[α(f1),α(fn)],利用
所述步骤S32得到的频率fi下的晶粒尺寸衰减评价函数测试试块晶粒尺寸的评
价模型为


式中,wi为各频率下的晶粒尺寸评价函数gi-1(α(fi))的归一化权值,且满足

(三)有益效果

本发明提供了一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超声衰减评价方法,通过多
元高斯声束理论计算出由于试块形状、水声距、及界面反射透射等因素引起的扩散衰减,进
而得到剔除了扩散衰减部分的真实散射衰减,利用散射衰减计算衰减-晶粒尺寸评价函数,
最后建立晶粒尺寸的多频加权评价模型。针对金相法测定晶粒尺寸为124.43μm的6种不同
放置方式的曲面试块,单频评价法的平均相对误差为8.34%,本专利方法评价的相对误差
均值为4.28%,最小相对误差为3.21%,最大相对误差为5.61%。可见,通过剔除扩散衰减
成分,同?#24065;?#20837;多频加权评价,减小了系统误差及随机误差,提高了金属材料平均晶粒尺寸
超声无损评价方法的实用性和可靠性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本
发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以
根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超声衰减评价方法的流程
图。

图2为水浸法超声检测模型。

图3为本发明中标定平面试块及试曲面试块的几何尺寸图。

图4(a)-(h)依次为#0-#7试块的金相图。

图5为本发明中超声信号采集系统结构示意图。

图6(a),6(b)为本发明中标定平面试块和测试曲面试块的总衰减谱。

图7为本发明中标定平面试块及测试曲面试块的扩散衰减谱图。

图8(a),8(b)为本发明中测试曲面试块及同晶粒尺寸的标定平面试块的真实散射
减谱图。

图9为本发明中散射衰减-晶粒尺寸关系曲线?#21644;肌?br />

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步详?#35813;?#36848;。以下实施例用于说明本发
明,但不能用来限制本发明的?#27573;А?br />

具体实施方式是选用牌号为06Cr19Ni10的304不锈?#31181;?#22791;试块,为了建立剔除扩
散影响的晶粒尺寸多频超声衰减评价模型,需要以晶粒尺寸已知的试块作为参考。采用超
声脉冲信号发生/接收器与聚?#22266;?#22836;连接进行脉冲信号的收发;使用运动控制卡和运动平
台,调整控制探头垂直于被测表面上下运动,并用计算机上的高速数据采集卡获取并存储
超声仪输出的原始超声A波信号,最后在计算机上进行进一步的分析和建模。

图1为本发明的一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超声衰减评价方法的流程
图,建模与评价的步骤如下。

S1、通过不同热处理制备形状相同但具有不同平均晶粒尺寸的平面标定试块,通
过相同条件热处理制备形状不同但具有相同平均晶粒尺寸的曲面测试试块,采集标定及曲
面试块的超声回波信号,利用一次及二次底波信号提取各个试块的超声总衰减谱,使用金
相法测定并记录各标定试块及测试试块的晶粒尺寸。

S11、首先线切割出13个试块坯料进行热处理,使用高温炉处理上述试块坯料,设
置不同的加热温度与保温时间,使其具有晶粒尺寸梯度的同时保持扩散速率与晶界偏析程
度基本一致,随后进行一次去应力退火。

S12、对热处理后的各试块坯料按平面标定试块及测试曲面试块所设计的几何尺
寸,采用慢走丝线切割工艺进行机加工,以保证尺寸精度与超声检测试验中关键表面的光
洁?#21462;?#23545;平面标定试块及测试曲面试块进行水浸法超声测量,提取一次底波BW1及二次底波
BW2,计算总衰减谱为


式中,αtotal(f)为被测试块的超声总衰减谱,h为被测试块厚度,VBW1(f)和VBW2(f)分
别为一次底波信号BW1和二次底波信号BW2进行傅立叶变换后的频域形式。

S13、从各坯料余量的不同部位切取2个边长为5mm的立方体小样,?#28304;?#34920;各试块内
部金相组织,采用镶样机,配合热镶嵌粉?#35889;?#38262;嵌试样,对镶嵌试样进行磨样与抛光;用腐
蚀剂进行一定时长的腐蚀;利用金相显微系?#25345;?#23545;其进行金相的观察和图像采集,根据
ASTM E112标准计算晶粒尺寸,计算出各个平均晶粒尺寸并记作Dki。

S2、运用多元高斯声束理论建立不考虑散射衰减的扩散衰减计算模型,利用所建
立扩散衰减计算模型计算所述步骤S1得到的各标定试块及测试试块的扩散衰减谱。

S21、如图2所示,运用高斯声束模型求解探?#26041;?#25910;到的一次底波BW1及二次底波
BW2的质点振动速度vBW1(f)和vBW2(f),求解过程?#34892;?#35201;考虑以下影响因素:声束在水-被测
试块界面、试块-水界面的透射系数T12和T21,在工件-水界面的反射系数R21,探头到被测试
块表面的距离W,被测试块厚度h和被测试块上下曲面曲率半径的r1、r2。

S22、利用所述步骤S21得到的一次底波BW1及二次底波BW2的质点振动速度vBW1(f)
和vBW2(f),对探头晶片各点处的声压进行面积分,则探?#26041;?#25910;的一次底波BW1和二次底波
BW2声束平均声压分别为



式中,ρ为水的密度,为超声波在水中传播速度,S为接收探头的晶片?#34892;?#38754;积,
为探?#26041;?#25910;的一次底波BW1声束平均声压,探?#26041;?#25910;的二次底波BW2声
束平均声压。

S23、运用所述步骤S22得到的探?#26041;?#25910;的一次底波BW1和二次底波BW2声束平均声
压和求出被测试块一次底波BW1对二次底波BW2的扩散衰减谱为


式中,s(f)为检测系统的系统函数,tBW1(f)为一次底波BW1的声弹?#28304;?#36882;函数,tBW2
(f)为二次底波BW2的声弹?#28304;?#36882;函数,αdiff(f)为试块一次底波BW1对二次底波BW2的扩散
衰减谱。

S3、在所述步骤S1得到的超声总衰减谱中剔除所述步骤S2得到的扩散衰减谱分
量,得到所述步骤S1得到的各标定试块及测试试块的真实散射衰减谱,结合所述步骤S1得
到的标定试块的金相法晶粒尺寸,计算各个频率的晶粒尺寸评价函数。

S31、利用所述步骤S23得到的一次底波BW1对二次底波BW2的扩散衰减谱αdiff(f),
计算被测试块的真实散射衰减谱为

α(f)=αtotal(f)-αdiff(f) (5)

式中,α(f)为被测试块的真实衰减谱。

S32、根据步骤S1所选取探头的?#34892;?#39057;?#26159;?#38388;,选取频率fi,计算频率fi下的晶粒尺
寸衰减评价函数为


式中,Di为被测试块的晶粒尺寸,α(fi)为被测试块在频率fi的真实衰减值,
为频率fi下的晶粒尺寸衰减评价函数。

S4、利用所述步骤S3得到的各个频率的晶粒尺寸评价函数,建立晶粒尺寸多频加
权评价模型;所述步骤S4具体方法为:

选取的fi等距分布在区间[f1,fn],对应修正后的衰减系数为[α(f1),α(fn)],利用
所述步骤S32得到的频率fi下的晶粒尺寸衰减评价函数测试试块晶粒尺寸的评
价模型为


式中,wi为各频率下的晶粒尺寸评价函数gi-1(α(fi))的归一化权值,且满足

S5、利用所述步骤S4得到的晶粒尺寸多频加权评价模型,对各个曲面测试试块进
行晶粒尺寸评价,最后对比分析该模型的?#34892;?#24615;。

图3为平面标定试块及曲面测试试块的外形尺寸图,1种形状的8个平面标定试块
夹持状态相同,分别记为#0、#1、#2、#3、#4、#5、#6、#7,4种不同形状曲面测试试块可有6种夹
持状态,分别记为#A、#B、#BT、#C、#D、#DT。

图5为本发明中超声信号采集系统结构示意图,采用Olympus5072PR超声脉冲信号
发生/接收器与聚?#22266;?#22836;连接进行脉冲信号收发,选用型号为GE-IAP10.6.3的聚?#22266;?#22836;,其
?#34892;?#39057;率f为10MHz,焦距F为75mm,通过专用夹具对试块进行端面固定,控制探头微动使其
与被测表面垂直、对中,并实现探头上下运动以改变水声距。在检测中将探?#26041;?#36317;F设为水
声距W,?#34892;?#25552;高入射声能并控制波形畸变。使用ADLINK PCIe-9852高速数据采集卡,得到
采样间隔为5ns的A波数据。试块的热处理采用KSL1700X型高温炉,金相分析中使用的腐蚀
液化学成分为20%HF+10%HNO3+70%H2O,腐蚀时间为20min,接着对试块进行磨样、抛光,
采用Leica公司DM4000M型金相显微镜观察金相组织。试块的热处理条件及金相法晶粒尺寸
如表1所示。

表1试块热处理条件与金相法晶粒尺寸


设置时间闸门获取时域BW1、BW2信号并计算其幅频特性曲线,由式(1)计算每个频
率分量下的实测总衰减系数,见图6,其?#22411;?(a)为平面标定试块的试验总衰减谱,图6(b)
为曲面测试试块的试验总衰减谱。

针对曲面测试试块#B和#DT,运用高斯理论模拟工件弯曲界面对超声声束扩散的
影响。通过模拟可知,聚?#22266;?#22836;发射的声束在穿透凸型和凹形水-?#32440;?#38754;时,将分别发生发
散和聚集;而声束从凸型和凹形钢-水界面透射出时,将分别发生聚集和发散。进一步依据
公式(4)模拟计算扩散衰减系数的值,结果如图7所示。

运用上述所得的试验总衰减谱及扩散衰减谱,代入公式(5)计算真实的散射衰减,
结果如图8所示。图8(a)及图6(b)分别对比于图8(b),对于剔除扩散衰减后的曲面试块#A
~#DT衰减谱,其变化趋势更接近参考平面试块#5,且由包络线构成的衰减带宽度更窄。计
算修正曲面试块扩散系数前后,多个频率分量下衰减值的离散系数CV,?#28304;?#32771;量修正前后
衰减谱的离散程度,结果如表2所示,相较于修正前,修正后的CV值平均下降了0.057,意味
着数据的离散度减低了31%,修正模型的评价稳定性将得到显著提高。

表2曲面测试试块剔除扩散衰减前后的离散系数


根据试验?#34892;?#39057;段,参考所选探?#20998;?#39057;与带宽参数,取评价模型频率?#27573;?#20026;
[2.5MHz,8.5MHz]。运用图6(a)中平面衰减谱数据及金相法测得的#0~#7平面试块晶粒尺
寸,选用多项式模型建立衰减-晶粒尺寸评价函数,即对于每一个确定的频率分量fi,满足

gi(D)=piD3+qiD+ci (8)

取频率间隔为0.5MHz,故评价函数曲线数n为13,部分拟合结果如图9所示,各频率
下评价函数的参数pi、qi、ci的值如表3所示。

表3衰减-晶粒尺寸评价函数组参数


结合公式(7),为简化该公式,取各晶粒尺寸衰减评价函数的权重wi均相?#21462;?#23545;于
不参与?#39057;?#30340;曲面验证试块#A~#DT,根据实测?#34892;?#34928;减谱的频率值域[2.5MHz,7MHz],结
合图9,取评价函数系列,可得曲面试块的晶粒尺寸评价式


对于传统晶粒尺寸频域评价法,用单一固定频率下的衰减-晶粒尺寸函数进行评
价,结合实测?#34892;?#34928;减谱的频率值域,取表3中拟合相关系数最高的晶粒尺寸评价函数,可
得传统法晶粒尺寸评价式


对曲面测试试块的晶粒尺寸进行评价,首先利用传统衰减法模型式(10),选取
7MHz下的衰减-晶粒尺寸函数,得到一组评价结果;接着运用多频加权评价模型(9),同样在
7MHz下对曲面试块进行评价;

结果如表4所示。

表4剔除扩散衰减前后晶粒尺寸评价效果对比



本发明的方法根据多元高斯声束理论计算出由于试块形状、水声距、及界面反射
透射等因素引起的扩散衰减,进而得到剔除了扩散衰减部分的真实散射衰减,利用散射衰
减计算衰减-晶粒尺寸评价函数,最后建立晶粒尺寸的多频加权评价模型。针对金相法测定
晶粒尺寸为124.43μm的6种不同放置方式的曲面试块,单频评价法的平均相对误差为
8.34%,本专利方法评价的相对误差均值为4.28%,最小相对误差为3.21%,最大相对误差
为5.61%。可见,通过剔除扩散衰减成分,同?#24065;?#20837;多频加权评价,减小了系统误差及随机
误差,提高了金属材料平均晶粒尺寸超声无损评价方法的实用性和可靠性。

以上实施方式仅用于说明本发明,而非对本发明的限制。尽管参照实施例对本发
明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,对本发明的技术方案进行各种组合、
修改或者等同替换,都不脱离本发明技术方案的精神和?#27573;В?#22343;应涵盖在本发明的权利要
求?#27573;?#24403;中。

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本文标题:一种剔除曲面扩散影响的金属晶粒尺寸超声衰减评价方法.pdf
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