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发光二极管测试装置.pdf

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发光二极管 测试 装置
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摘要
申请专利号:

CN201610822468.8

申请日:

2016.09.14

公开号:

CN106483473A

公开日:

2017.03.08

当前法律状态:

实审

有效性:

审中

法?#19978;?#24773;: ?#25269;?#23457;查的生效IPC(主分类):G01R 31/44申请日:20160914|||公开
IPC分类号: G01R31/44; G01R1/04; G01R1/073 主分类号: G01R31/44
申请人: 深圳清华大学研究院
发明人: 曹鸣皋; 刘岩; 胡益民; 周霖; 敬刚
地址: 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园南区深圳清华大学研究院大楼A302室
优?#28909;ǎ?/td>
专利代理机构: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 徐丽昕
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法律状态
申请(专利)号:

CN201610822468.8

授权公告号:

|||

法律状态公告日:

2017.04.05|||2017.03.08

法律状态类型:

?#25269;?#23457;查的生效|||公开

摘要

一种发光二极管测试装置。所述发光二极管测试装置包括固定基板、贴设于所述固定基板底面的散热板、设置于所述固定基板的容置孔且与所述散热板抵接的顶柱、设置于所述固定基板表面的绝缘压盖和贯穿并卡置于所述固定基板的弹性测试探针组件,发光二极管固定于所述顶柱顶部,所述发光二极管包括正极连接部和负极连接部,所述正极连接部和负极连接部分别与所述弹性测试探针组件连接。所述发光二极管测试装置具有较高的测试工作效率,此外,因此发光二极管工作产生的热量能够通过顶柱快速传导至远离发光二极管的散热板上,然后散发至周围环?#25345;?#21435;,从而有效避免测试中的发光二极管的工作温度过高,进而防止其因过热而导?#28388;?#22351;。

权利要求书

1.一种发光二极管测试装置,其特征在于,包括固定基板、贴设于所述固定基板底面的
散热板、设置于所述固定基板的容置孔且与所述散热板抵接的顶柱、设置于所述固定基板
表面的绝缘压盖和贯穿并卡置于所述固定基板的弹性测试探针组件,发光二极管固定于所
述顶柱顶部,所述发光二极管包括正极连接部和负极连接部,所述正极连接部和负极连接
部分别与所述弹性测试探针组件连接。
2.根据权利要求1所述的发光二级管测试装置,其特征在于,所述绝缘压盖包括绝缘基
座、第一压脚、第二压脚和两个导电铜片,所述绝缘基座呈中空的长方体结构,所述第一压
脚和所述第二压脚相对设置于所述绝缘基座表面,且分别靠近所述绝缘基座的相对两侧,
所述两个导电铜片分别设置于所述第一压脚和所述第二压脚的表面,所述固定基板表面设
置有定位槽,所述绝缘基座卡设于所述定位槽内。
3.根据权利要求2所述的发光二极管测试装置,其特征在于,所述顶柱顶部设置有限位
槽,所述发光二极管设置于所述限位槽内,所述正极连接部和负极连接部延伸出所述限位
槽,并且分别与对应侧的两个所述铜片连接。
4.根据权利要求3所述的发光二级管测试装置,其特征在于,所述发光二极管的的正极
连接部和负极连接部分别与对应的导电铜片抵接,所述弹性探针测试组件抵靠所述发光二
级管的正极连接部和负极连接部。
5.根据权利要求1所述的发光二级管测试装置,其特征在于,所述顶柱底面向内凹陷形
成第一凹槽,所述第一凹槽的底部向内继续凹陷形成第二凹槽,所述第一凹槽和所述第二
凹槽呈同轴且设置所述第二凹槽的内径小于所述第一凹槽的内径,所述散热板上设置有与
所述第二凹槽对应设置的螺栓孔,所述第二凹槽在所述螺栓孔与所述第一凹槽和所述第二
凹槽同轴设置。
6.根据权利要求5所述的发光二极管测试装置,其特征在于,还包括弹簧,所述弹簧收
容与所述第一凹槽内且所述弹簧的外径与所述第一凹槽的内径配合设置,所述弹簧两端分
别抵接所述第一凹槽的底部和所述散热板。
7.根据权利要求6所述的发光二极管测试装置,其特征在于,还包括螺栓,所述螺栓包
括螺栓杆与螺栓头部,所述螺栓的螺栓杆依次穿过所述螺栓孔和所述弹簧的中空部分,并
旋入所述第二凹槽内从而与所述顶柱固定,所述螺栓杆的直径与所述螺栓孔的孔径匹配设
置,所述第二凹槽与所述螺栓杆配合设置,所述螺栓头部的直径大于所述螺栓孔的孔径。
8.根据权利要求1所述的发光二级管测试装置,其特征在于,所述弹性测试探针组件包
括正极弹性测试探针组件和负极弹性测试探针组件,其中所述正极弹性测试探针组件和负
极弹性测试探针组件均包括两个弹性测试探针,所述正极弹性测试探针组件的两个弹性测
试探针分别与所述正极连接部和与所述正极连接部连接的导电铜片连接,所述负极弹性测
试探针组件的两个弹性测试探针分别与所述负极连接部和与所述负极连接部连接的导电
铜片连接。
9.根据权利要求8所述的发光二极管测试装置,其特征在于,所述正极弹性测试探针组
件包括第一正极弹性测试探针和第二正极弹性测试探针,所述负极弹性测试探针组件包括
第一负极弹性测试探针和第二负极弹性测试探针,所述第一正极弹性测试探针和所述第二
正极弹性测试探针中至少一个与所述正极连接部连接,所述第一负极弹性测试探针和所述
第二负极弹性测试探针中至少一个与所述负极连接部连接。
10.根据权利要求1所述的发光二极管测试装置,其特征在于,还包括连接座,所述连接
座包括支柱和连接板,所述支柱连连接于所述连接板和固定基板之间,用以将所述发光二
极管测试装置固定安装于特定位置。

说明书

发光二极管测试装置

技术领域

本发明涉及发光二极管照明领域,尤其涉及一种用以测试发光二极管的工作稳定
性的发光二极管测试装置。

背景技术

发光二极管(light emitting diode,LED)作为一种高效的发光源,具有环保、省
电、寿命长等诸多特点已经?#36824;?#27867;的运用于各种领域。LED固态光源由于能产生更高的亮
度,可以实?#36136;?#20869;外照明,也将取代白炽灯和荧光灯等现有光源,获得更加广泛的运用。

在实际生产LED的过程中,制造完成后需对LED的工作稳定性进行测试。目前通行
的LED工作稳定性试验方法是在同型号、同批次制造的LED产?#20998;校?#25277;取一定数量的样品进
行测试,在测试过程中测量其性能参数,根据相应的工作寿命算法推算出该型号、该批次的
LED的使用寿命。

然而,逐个、依次地对抽取出的样品进行测试,会耗用较长的测试时间,使得对LED
的整体测试效率较低。

发明内容

有鉴于此,有必要提供一种具有较高测试效率的发光二极管测试装置。

一种发光二极管测试装置,包括固定基板、贴设于所述固定基板底面的散热板、设
置于所述固定基板的容置孔且与所述散热板抵接的顶柱、设置于所述固定基板表面的绝缘
压盖和贯穿并卡置于所述固定基板的弹性测试探针组件,发光二极管固定于所述顶柱顶
部,所述发光二极管包括正极连接部和负极连接部,所述正极连接部和负极连接部分别与
所述弹性测试探针组件连接。

进一步地,所述绝缘压盖包括绝缘基座、第一压脚、第二压脚和两个导电铜片,所
述绝缘基座呈中空的长方体结构,所述第一压脚和所述第二压脚相对设置于所述绝缘基座
表面,且分别靠近所述绝缘基座的相对两侧,所述两个导电铜片分别设置于所述第一压脚
和所述第二压脚的表面,所述固定基板表面设置有定位槽,所述绝缘基座卡设于所述定位
槽内。

进一步地,所述顶柱顶部设置有限位槽,所述发光二极管设置于所述限位槽内,所
述正极连接部和负极连接部延伸出所述限位槽,并且分别与对应侧的两个所述铜片连接。

进一步地,所述发光二极管的的正极连接部和负极连接部分别与对应的导电铜片
抵接,所述弹性探针测试组件抵靠所述发光二级管的正极连接部和负极连接部。

进一步地,所述顶柱底面向内凹陷形成第一凹槽,所述第一凹槽的底部向内继续
凹陷形成第二凹槽,所述第一凹槽和所述第二凹槽呈同轴且设置所述第二凹槽的内径小于
所述第一凹槽的内径,所述散热板上设置有与所述第二凹槽对应设置的螺栓孔,所述第二
凹槽在所述螺栓孔与所述第一凹槽和所述第二凹槽同轴设置。

进一步地,还包括弹簧,所述弹簧收容与所述第一凹槽内且所述弹簧的外径与所
述第一凹槽的内径配合设置,所述弹簧两端分别抵接所述第一凹槽的底部和所述散热板。

进一步地,还包括螺栓,所述螺栓包括螺栓杆与螺栓头部,所述螺栓的螺栓杆依次
穿过所述螺栓孔和所述弹簧的中空部分,并旋入所述第二凹槽内从而与所述顶柱固定,所
述螺栓杆的直径与所述螺栓孔的孔径匹配设置,所述第二凹槽与所述螺栓杆配合设置,所
述螺栓头部的直径大于所述螺栓孔的孔径。

进一步地,所述弹性测试探针组件包括正极弹性测试探针组件和负极弹性测试探
针组件,其中所述正极弹性测试探针组件和负极弹性测试探针组件均包括两个弹性测试探
针,所述正极弹性测试探针组件的两个弹性测试探针分别与所述正极连接部和与所述正极
连接部连接的导电铜片连接,所述负极弹性测试探针组件的两个弹性测试探针分别与所述
负极连接部和与所述负极连接部连接的导电铜片连接。

进一步地,所述正极弹性测试探针组件包括第一正极弹性测试探针和第二正极弹
性测试探针,所述负极弹性测试探针组件包括第一负极弹性测试探针和第二负极弹性测试
探针,所述第一正极弹性测试探针和所述第二正极弹性测试探针中至少一个与所述正极连
接部连接,所述第一负极弹性测试探针和所述第二负极弹性测试探针中至少一个与所述负
极连接部连接。

进一步地,还包括连接座,所述连接座包括支柱和连接板,所述支柱连连接于所述
连接板和固定基板之间,用以将所述发光二极管测试装置固定安装于特定位置。

本发明提供的发光二极管测试装置包括弹性测试探针组件,从而方便取出或装入
所述发光二极管,操作方便、快捷使得所述发光二极管测试装置具有较高的测试工作效率。
此外,所述发光二极管测试装置的整体加工制造成本较低。另外,本发明的发光二极管测试
装置的顶柱与所述散热板抵接,所述顶柱为导热材料,因此发光二极管工作产生的热量能
够通过顶柱快速传导至远离发光二极管的散热板上,然后散发至周围环?#25345;?#21435;,从而有效
保证测试中的发光二极管的工作温度避免过高,进而防止其因过热而导?#28388;?#22351;。

附图说明

图1是本发明提供的发光二极管测试装置的正面原件组装结构示意图。

图2是图1中所示的发光二极管测试装置的背面原件组装结构示意图。

图3是图1中所示的发光二极管测试装置的分解结构示意图。

图4是图3中所述的发光二极管测试装置的局部放大示意图。

图5是图1中所示的发光二极管测试装置沿IV-IV线?#36739;?#30340;部分剖视图。

主要元件符号说明

发光二极管测试装置
100
发光二极管
10
正极连接部
11
负极连接部
12
固定基板
20
定位槽
21
容置孔
22
卡置孔单元
23
正极卡置孔单元
231
负极卡置孔单元
232
散热板
30
绝缘压盖
40
绝缘基座
41
第一压脚
42
第二压脚
43
导电铜片
44
顶柱
50
限位槽
51
第一凹槽
52
第二凹槽
53
抵靠部
54
弹性测试探针组件
60
正极弹性测试探针组件
61
第一正极弹性测试探针
611
第二正极弹性测试探针
612
负极弹性测试探针组件
62
第一负极弹性测试探针
621
第二负极弹性测试探针
622
弹簧
70
固定螺栓
80
连接座
90
支柱
91
连接板
92

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方?#38468;?#34892;清楚、完
整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于
本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他
实施例,?#38469;?#20110;本发明保护的范围。

需要说明的是,当组件被称为“固定于”另一个组件,它可以直接在另一个组件上
或者?#37096;梢源?#22312;居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接
到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件,它
可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直
的”、“水平的”、?#30333;蟆薄ⅰ?#21491;?#24065;?#21450;类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的
技术人员通常理解的含义相同。本文?#24615;?#26412;发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具
体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语?#20985;埃?#25110;”包括一个或多个相
关的所列项目的?#25105;?#30340;和所有的组合。

下面结合附图,对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下,下述的
实施例及实施例中的特征可以相互组合。

请同时参阅图1-图5,本发明一实施例的发光二极管(LED)测试装置100用以同时
测试若干发光二极管10的工作稳定性,其中所述发光二极管10包括正极连接部11和负极连
接部12。

该发光二极管测试装置100包括固定基板20、散热板30、绝缘压盖40、顶柱50、弹性
测试探针组件60、弹簧70、固定螺栓80和连接座90。所述散热板30贴设于所述固定基板20底
面。所述绝缘压盖40设置于所述固定基板20的上表面。所述顶柱50卡置于所述固定基板20
内,所述弹性测试探针组件60贯穿所述固定基板20并且与所述绝缘压盖40抵接。所述绝缘
弹簧70收容于所述绝缘压盖40内,所述固定螺栓80与所述绝缘压盖40连接,所述连接座90
连接于所述散热板30的下表面。

所述固定基板20整体上为圆盘状板体。此外,所述固定基板20为中心对称结构,以
便于安装需测试的发光二极管10及进行后续测试操作。由绝缘性材料制成,如陶瓷类、树脂
类等材料。在本实施例中,该固定基板20采用聚四氟乙烯材料一体制成,聚四氟乙烯材料具
有耐高温、?#36879;?#34432;、高绝缘、不粘附等特性。所述固定基板20的顶面上开设有若干定位槽21、
设置于所述定位槽21中部包围的区域对应开设的容置孔22和设置于所述容置孔22?#36739;?#23545;
侧面的卡置孔单元23。

请参阅图5,所述定位槽21用于固定限位所述绝缘压盖40。可以理解,每一个定位
槽21用于固定限位一个绝缘压盖40。在发明中,所述定位槽21呈回形槽结构。所述定位槽21
及对应容置其内的绝缘压盖40相对于该固定基板20的中心呈放射状,并且均匀排布于固定
基板20的顶面靠近周缘处。可以理解地,这些绝缘压盖40及对应容置其内的顶柱50可以排
布于固定基板20的顶面?#25105;?#20301;置至布满整个固定基板20的顶面,排布方式亦可根据实际需
要为?#25105;?#26041;式,如以阵列方式或?#36824;?#21017;方式。所述容置孔22开设于对应的所述定位槽21中
部包围的区域内,该容置孔22向下延伸贯穿该固定基板20的底面。所述容置孔22用于容置
所述顶柱50。优选的,所述容置孔22设于所述定位槽21正中部。

所述卡置孔单元23设置于所述容置孔22相对两侧。具体地,所述卡置孔单元23包
括正极卡置孔单元231和负极卡置孔单元232,且所述正极卡置孔单元231和所述负极卡置
孔单元232分别设置于所述容置孔22的相对两侧且关于所述容置孔22对称设置。在本发明
中,所述正极卡置孔单元231单元包括第一正极卡置孔和第二正极卡置孔,所述负极卡置孔
单元232包括第一负极卡置孔和所述第二正极卡置孔。

所述散热板30贴设于所述固定基板20下部。具体地,所述固定基板20与所述散热
板30通过螺栓固定。在本发明中,所述散热板30为铝材?#21097;?#24403;然,所述散热板30还可以为其
他的金属材?#21097;?#26412;发明对此不做限定。可以理解,所述散热板30同样为圆盘状,且所述散热
板30与所述固定基板20的尺寸相同。

所述绝缘压盖40的个数为多个,所述绝缘压盖40包括绝缘基座41、第一压脚42、第
二压脚43和两个相同规格的导电铜片44。所述绝缘基座41呈中空的长方体结构,所述第一
压脚42和所述第二压脚43相对设置于所述绝缘基座41上表面,且分别靠近设置于所述绝缘
基座41的相对两侧。所述两个导电铜片44分别设置于所述第一压脚42和所述第二压脚43的
表面。

所述绝缘基座41卡置于所述定位槽21内,并且与所述定位槽21配合设置。所述绝
缘压盖40与所述固定基板20通过螺栓进行固定。所述第一压脚42和所述第二压脚43均包括
支撑柱和设于所述支撑柱上部的压盖。其中所述两个支撑柱的一端均分别与所述绝缘基座
41的上表面连接,另一端与各自对应的压盖连接。在本发明中,所述支撑柱与相对应的所述
压盖垂直连接。因此可以理解,所述第一压脚42和所述第二压脚43整体均呈L型结构。所述
两个导电铜片44分别设置于所述第一压脚42和所述第二压脚43的压盖朝向所述绝缘基座
41?#36739;?#30340;表面。

所述顶柱50设置于所述容置孔内,其顶?#25628;?#20280;出所述容置孔,在进行发光二极管
的测试过程中,其底端与所述散热板30抵靠设置。在本发明中,所述顶柱50为导热材料。因
此在进行发光二级管10的测试过程中,所述顶柱50可以将所述发光二极管10发出的热量导
入到所述散热板30从而加快散热。具体地,所述顶柱50为金属铝材料。当然,所述顶柱50还
可以为其他种类的导热材料,本发明对此不做限定。

所述顶柱50整体呈柱形结构,并且所述顶柱50具有顶面开设有限位槽51、底面向
内凹陷形成的第一凹槽52、所述第一凹槽52底面继续向内凹陷形成的第二凹槽53和与所述
固定基板20抵靠设置的抵靠部54。其中所述第一凹槽52和所述第二凹槽53均为圆柱形凹
槽,且所述第二凹槽53的内径小于所述第一凹槽52的内径。除此之外,所述第一凹槽52和所
述第二凹槽53呈同轴设置。所述抵靠部54的个数有两个,所述两个抵靠部54设置于所述顶
柱50相对两侧面的中部。所述抵靠部54与所述固定基板20抵靠设置,从而防止所述顶柱50
向下滑出所述固定基板20并对所述顶柱50进行限位。

所述限位槽51用于对所述发光二极管10进行限位。所述限位槽51的相对两侧的侧
壁分别设置有第一开口511和第二开口512,所述第一开口511和所述第二开口512分别用于
放置容纳所述正极连接部11和所述负极连接部12。在本发明中,所述第一开口511和所述第
二开口512并非?#35782;?#31216;设置,而是错开一定距离,这主要是由于所述正极连接部11和所述负
极连接部12二者非对称设置决定。所述第一开口511和所述第二开口512与所述正极连接部
11和所述负极连接部12配合设置。

所述弹性测试探针组件60设置于所述卡置孔单元23并贯穿所述固定基板20,同时
与所述固定基板20卡合固定。此外,所述弹性测试探针组件60同时贯穿了所述散热板30,具
体地,所述弹性测试探针组件60贯穿了所述散热板30上对应设置的用于贯穿所述弹性测试
探针组件60的通孔。当然,可以理解,所述弹性测试探针组件60的弹性抵接端设置于所述固
定基板20的上部。

所述弹性测试探针组件60包括正极弹性测试探针组件61和负极弹性测试探针组
件62。其中所述正极弹性测试探针组件61包括第一正极弹性测试探针611和第二正极弹性
测试探针612;所述负极弹性测试探针组件62包括第一负极弹性测试探针621和第二负极弹
性测试探针622。具体地,所述第一正极弹性测试探针611和所述第二正极弹性测试探针612
分别卡置于所述第一正极卡置孔和所述第二正极卡置孔;所述第一负极弹性测试探针621
和所述第二负极弹性测试探针622分别卡置于所述第一负极卡置孔和所述第二负极卡置
孔。

所述第一正极弹性测试探针611的弹性抵接端所述正极连接部11,此时所述正极
连接部11由所述第一负极弹性测试探针611顶靠从而使得所述正极连接部11与所述第一压
脚42的压盖下表面的导电铜片44紧密接触,所述第二正极弹性测试探针612与所述第一压
脚42的压盖下表面的导电铜片44紧密抵接。在测试过程中,所述第一正极弹性测试探针611
和所述第二正极弹性测试探针612的末端分别与正极电源线和结温参数输出线连接。可以
理解,所述第一正极弹性测试探针611?#37096;?#20197;与结温参数输出线连接,而所述第二正极弹性
测试探针612与所述正极电源线连接,测试效果是相同的。

与正极测试探针组件61相似所述第一负极弹性测试探针621的弹性抵接端所述负
极连接部12,此时所述负极连接部12由所述第一负极弹性测试探针621顶靠从而使得所述
负极连接部12与所述第二压脚43的压盖下表面的导电铜片44紧密接触,所述第二负极弹性
探针622与所述第二压脚43的压盖下表面的导电铜片44紧密抵接。在测试过程中,所述第一
负极弹性测试探针621和所述第二负极弹性测试探针622的末端分别与负极电源线和结温
参数输出线连接。可以理解,所述第一负极弹性测试探针621?#37096;?#20197;与结温参数输出线连
接,而所述第二负极弹性测试探针622与所述负极电源线连接,测试效果是相同的。

所述弹簧70收容于所述第一凹槽52内,两端分别抵靠所述第一凹槽52的底部以及
所述散热板30。所述散热板30上设置有与所述第二凹槽53对应设置的螺栓孔,所述螺栓孔
与所述第一凹槽52和所述第二凹槽53同轴设置,此外,所述螺栓孔与所述第二凹槽53的孔
径相同。

所述固定螺栓80穿过所述螺栓孔后继续穿过所述第一凹槽52并固定于所述第二
凹槽53内。可以理解,所述固定螺栓80与所述螺栓孔以及所述第二凹槽53配合设置,从而方
便所述固定螺栓80旋入固定。此外,所述固定螺栓80穿过第一凹槽52的同?#24065;?#31359;过了收容
于所述第一凹槽52内的弹簧。所述固定螺栓用于所述顶柱50进行限位,从而防止所述顶柱
50被所述弹簧70向上顶出所述容置孔。

所述连接座90包括支柱91及连接板92。所述连接板92用以将所述发光二极管测试
装置固定安装于特定位置。所述支柱91连接于该连接板92与固定基板20之间。所述连接座
90的支柱91及连接板92均采用铝或铝合金材料制成。

与现有技术相比,本发明提供的发光二极管测试装置100包括弹性测试探针组件
60,从而方便取出或装入所述发光二极管10,操作方便、快捷使得所述发光二极管测试装置
100具有较高的测试工作效率。此外,所述发光二极管测试装置100的整体加工制造成本较
低。另外,本发明的发光二极管测试装置100的顶柱50与所述散热板30抵接,所述顶柱50为
导热材料,因此发光二极管10工作产生的热量能够通过顶柱50快速传导至远离发光二极管
10的散热板30上,然后散发至周围环?#25345;?#21435;,从而有效保证测试中的发光二极管10的工作
温度避免过高,进而防止其因过热而导?#28388;?#22351;。

以上实施方式仅用?#36816;?#26126;本发明的技术方案而非限制,尽管参照以上实施方式对
本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方?#38468;?#34892;
修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。

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本文标题:发光二极管测试装置.pdf
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