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晶体管检测装置.pdf

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晶体管 检测 装置
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摘要
申请专利号:

CN201510535715.1

申请日:

2015.08.28

公开号:

CN106483438A

公开日:

2017.03.08

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法?#19978;?#24773;: 授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20150828|||公开
IPC分类号: G01R31/26(2014.01)I; G01R1/04 主分类号: G01R31/26
申请人: 神讯电脑(昆山)有限公司
发明人: 张荣斌
地址: 215300 江苏省苏州市昆山市综合保税区第二大道269号
优?#28909;ǎ?/td>
专利代理机构: 代理人:
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法律状态
申请(专利)号:

CN201510535715.1

授权公告号:

||||||

法律状态公告日:

2018.08.28|||2017.04.05|||2017.03.08

法律状态类型:

授权|||实质审查的生效|||公开

摘要

本发明揭示一种晶体管检测装置,用来检测晶体管的性能,包括:基板,其上设有若干个固定孔,固定孔之间存在一定间距;电阻,其安插固定于基板的固定孔上;弹簧引脚,具有一弹簧及两导电引脚,该两导电引脚安装于弹簧之上,其中一导电引脚连接电阻的一端,另一导电引脚连接晶体管的其中一引脚;电源,具有两组电源输出口,该两组电源输出口各具有一正极输出端口和一负极输出端口;连接导线,其一端连接于电源上,另一端具有夹持件,该夹持件对应夹持电阻的另一端。利用本晶体管检测装置,采用弹簧引脚连接晶体管及电阻,使检测流程既方便、快捷,又可提高晶体管功能测试的?#26082;?#24230;。

权利要求书

1.一种晶体管检测装置,用来检测晶体管的性能,其特征在于,包括:
基板,其上设有若干个固定孔,所述固定孔之间存在一定间距;
电阻,其安插固定于所述基板的固定孔上;
弹簧引脚,具有一弹簧及两导电引脚,所述两导电引脚安装于该弹簧之上,
其中一导电引脚连接所述电阻的一端,另一导电引脚连接所述晶体管的其中一
引脚;
电源,具有两组电源输出口,所述两组电源输出口各具有一正极输出端口
和一负极输出端口;
连接导线,其一端连接于所述电源上,另一端具有夹持件,所述夹持件对
应夹持所述电阻的另一端。
2.如权利要求1所述的晶体管检测装置,其特征在于,所述弹簧引脚的两
导电引脚可进行旋转。
3.如权利要求1所述的晶体管检测装置,其特征在于,所述电阻至少为2
个。
4.如权利要求1所述的晶体管检测装置,其特征在于,所述电阻阻值在10
?#25913;分?00KΩ之间。
5.如权利要求1所述的晶体管检测装置,其特征在于,所述电源为直流电
源。
6.如权利要求1所述的晶体管检测装置,其特征在于,所述电阻的阻值对
应所述晶体管测试用电阻的阻值。
7.如权利要求1所述的晶体管检测装置,其特征在于,所述晶体管、电阻
及弹簧引脚安插于所述基板之上。

说明书

晶体管检测装置

【技术领域】

本发明涉及一种检测装置,特别是涉及一种晶体管检测装置。

【背景技术】

晶体管(例如SO-8、SOT363、SOT23、SOT-113、TO92)在使用前一般需要
进行检测,以验证其功能正常。以SO-8为例,其包括一个G极(栅极)引脚、
三个S极(源极)引脚、四个D极(漏极)引脚。

请参阅图1,图1为晶体管功能测试的一电路图。该功能测试为测试源极和
漏极之间的电阻RDS,该电路需要在晶体管10的源极和漏极之间串接第一电源
11及第一电阻12,在晶体管10的栅极和漏极之间串接第二电源13及第二电阻
14。

请参阅图2,图2绘示为图1晶体管功能测试电路的实物连接示意图。如图
所示,所述晶体管10的一个四个漏极引脚、三个源极引脚、一个栅极引脚分别
通过第一焊点15、第二焊点16、第三焊点17焊接于印刷线路板18上,直流电
源19提供上述第一电源11及第二电源13,再通过导线连接以形成图1中的电
路。所述导线的一端焊接在所述第一焊点15、第二焊点16、第三焊点17上,
另一端连接所述第一电阻12、第二电阻14或所述直流电源19。

然而,采用上述方式连接的测试电路,由于是使用具有夹具的导线连接所
述电子元器件,并且该些电子元器件焊接在一电路板上。一方面,在检测时接
线拆线的流程较繁琐;另一方面,因导线的夹具的散热性能较差,且高温焊接
后所述晶体管功能参数不良可能会导致测试数据不准。

有鉴于此,实有必要开发一种晶体管检测装置,以解决上述问题。

【发明内容】

因此,本发明的目的是提供一种晶体管检测装置,解决晶体管功能测试时
接线拆线流程繁琐,以及因导线的夹具的散热性能较差,且高温焊接后所述晶
体管功能参数不良导致测试数据不准的问题。

为了达到上述目的,本发明提供的晶体管检测装置,用来检测晶体管的性
能,包括:

基板,其上设有若干个固定孔,所述固定孔之间存在一定间距;

电阻,其安插固定于所述基板的固定孔上;

弹簧引脚,具有一弹簧及两导电引脚,所述两导电引脚安装于该弹簧之上,
其中一导电引脚连接所述电阻的一端,另一导电引脚连接所述晶体管的其中一
引脚;

电源,具有两组电源输出口,所述两组电源输出口各具有一正极输出端口
和一负极输出端口;

连接导线,其一端连接于所述电源上,另一端具有夹持件,所述夹持件对
应夹持所述电阻的另一端。

可选的,所述弹簧引脚的两导电引脚可进行旋转。

可选的,所述电阻至少2个。

可选的,所述电阻阻值在10?#25913;分?00KΩ之间。

可选的,所述电源为直流电源。

可选的,所述电阻的阻值对应所述晶体管测试用电阻的阻值。

相较于现有技术,利用本发明的晶体管检测装置,只需依据测?#36816;?#38656;求阻
值的电阻,将其固定在所述基板上,再将所述弹簧引脚的其中一导电引脚连接
所述电阻,另一导电引脚连接所述晶体管的栅极引脚、源极引脚或者漏极引脚
上。由于是将电阻固定在基板上,而所述晶体管的栅极引脚、源极引脚、漏极
引脚与电阻之间的连接是通过弹簧引脚连接来完成,无须焊接。因此,既解决
了测试时接线拆线的繁琐流程,又可避免因导线夹具的散热性能差,且高温焊
接后所述晶体管功能参数不良导致测试数据不准的问题。

【附图说明】

图1绘示晶体管功能测试的一电路图。

图2绘示图1晶体管功能测试电路的实物连接示意图。

图3绘示本发明的晶体管检测装置的结构示意图。

图4绘示本发明的晶体管检测装置一较佳实施例的装置结构示意图。

【具体实施方式】

请参阅图3,图3绘示本发明塑胶补偿植钉装置的结构示意图。

为了达到上述目的,本发明提供的晶体管功能测试装置,用来检测晶体管
10的性能,其包括:

基板20,其上设有若干个固定孔,所述固定孔之间存在一定间距;

电阻21,其安插固定于所述基板20的固定孔上;

弹簧引脚22,具有一弹簧223及两导电引脚,所述两导电引脚安装于所述
弹簧223之上,其中一导电引脚221连接所述电阻21的一端,另一导电引脚222
连接所述晶体管10的其中一引脚;

电源23,具有两组电源输出口(231,232),所述两组电源输出口(231,
232)各具有一正极输出端口和一负极输出端口;

连接导线24,其一端连接于所述电源23上,另一端具有夹持件25,所述
夹持件25对应夹持所述电阻21的另一端。

其中,所述弹簧引脚22的两导电引脚可进行旋转。

其中,所述弹簧引脚22至少为2个,以便晶体管10放置方位不同时,使
其栅极、源极或者漏极引脚通过所述弹簧引脚22便捷地连接至所述电阻21。

其中,所述电阻21至少为2个。

其中,所述电阻21的阻值在10?#25913;分?00KΩ之间。

其中,所述电源23为直流电源。

其中,所述电阻21的阻值对应所述晶体管测试用电阻的阻值。

其中,所述晶体管、电阻及弹簧引脚安插于所述基板之上,测试完成之后
可拆卸,以利回收使用。

请再参阅图4,图4绘示本发明的晶体管检测装置一较佳实施例的装置结构
示意图。

于本实施例中,该晶体管检测装置检测晶体管10源极和漏极之间的电阻RDS。

于本实施例中,所述第一弹簧引脚22的一导电引脚221连接所述第一电阻
21的一端,另一导电引脚222连接所述晶体管10的漏极引脚。

于本实施例中,所述电源输出口231的负极输出端口通过连接导线24连接
至所述晶体管10的源极引脚,其正极输出端口通过连接导线24连接至第一电
阻21的另一端。

于本实施例中,所述第二弹簧引脚26的一导电引脚262连接所述第二电阻
27的一端,另一导电引脚261连接所述晶体管10的栅极引脚。

于本实施例中,所述电源输出口232的负极输出端口通过连接导线24连接
至所述晶体管10的源极引脚,其正极输出端口通过连接导线24连接至第二电
阻27的另一端。

于本实施例中,所述晶体管10是以SO-8为例,其它类型的晶体管10(例
如SOT363、SOT23、SOT-113、TO92)也可以使用上述测试装置。

相较于现有技术,利用本发明的晶体管检测装置,只需依据测?#36816;?#38656;求阻
值的电阻21,将其固定在所述基板20上,再通过弹簧引脚(22,26)将所述晶
体管的栅极引脚、源极引脚、漏极引脚与电阻之间直接连接,无须进行焊接。
因此,本发明的晶体管检测装置既解决了测试时接线拆线的繁琐流程,又可避
免因导线夹具的散热性能差,且高温焊接后所述晶体管功能参数不良导致测试
数据不准的问题。

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本文标题:晶体管检测装置.pdf
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